布魯克臺(tái)階儀，可在爾迪儀器購(gòu)買，下面是布魯克臺(tái)階儀的詳細(xì)資料：

bruker的Dektak臺(tái)階儀是技術(shù)進(jìn)步的高峰。它們提供可重復(fù)、可靠和準(zhǔn)確的測(cè)量：從傳統(tǒng)的臺(tái)階高度測(cè)量和二維粗糙度的表面表征到高級(jí)三維形貌和薄膜應(yīng)力分析。

Dektak 臺(tái)階儀已被廣泛接受為薄膜厚度、應(yīng)力、表面粗糙度和形貌測(cè)量的金標(biāo)準(zhǔn)，應(yīng)用到從學(xué)術(shù)研究到半導(dǎo)體過程控制等不同領(lǐng)域。 

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

1.更快速的收集和分析

相比于普通臺(tái)階儀，bruker Dektak臺(tái)階儀可以直接驅(qū)動(dòng)掃描樣品臺(tái)，測(cè)量時(shí)間也加快 40%，同時(shí)保持優(yōu)質(zhì)迅速的性能。

2.低噪低降

單拱門結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使 DektakXT 更堅(jiān)固，從而將環(huán)境噪音的影響降至*低。DektakXT 升級(jí)的"智能電子設(shè)備"可降低溫度變化的影響，并采用現(xiàn)代處理器，大限度地減少噪聲水平，使其成為能夠測(cè)量 <10nm 臺(tái)階高度的更強(qiáng)大的系統(tǒng)。

3.全面的操作與分析

DektakXT搭配的Vision64 是bruker的 64 位并行處理操作和分析軟件，通過提供*直觀、*簡(jiǎn)化的用戶可視化界面，加入到 DektakXT 的創(chuàng)新設(shè)計(jì)。而且能夠更快地加載 3D 形貌文件，并更快地應(yīng)用篩選器和多區(qū)域數(shù)據(jù)庫分析。無論您是使用分析腳本對(duì)單個(gè)掃描結(jié)果進(jìn)行分析，還是應(yīng)用自定義篩選器設(shè)置和計(jì)算，DektakXT 的數(shù)據(jù)分析器都能顯示當(dāng)前分析結(jié)果，同時(shí)顯示其他可能的分析工具。

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