簡要描述:布魯克三維光學輪廓儀ContourX-1000落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉(WLI) 系 統(tǒng) 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 軟 件 上 的 新 技 術(shù), 可 用 于 全 自 動 三維表面紋理和粗糙度測量。
產(chǎn)品目錄
品牌 | Bruker/布魯克 | 價格區(qū)間 | 100萬-200萬 |
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產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
應用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),電子,綜合 |
布魯克三維光學輪廓儀ContourX-1000
落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉(WLI) 系 統(tǒng) 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 軟 件 上 的 新 技 術(shù), 可 用 于 全 自 動 三維表面紋理和粗糙度測量。
全新的一鍵式高級尋找表面(Advanced Find Surface )功能結(jié)合自動聚焦和自動照明功能,無需每次測量前手動查找樣品表面,極大提升了用戶體驗且縮短測量時間。結(jié)合自適應測量模式 USI 和簡潔的引導式VisionXpress操作界面,ContourX-1000 在任何表面,任何操作人員,甚至多用戶高負荷的生產(chǎn)設(shè)備下都可提供不打折扣的精確測量。
特點:
·可傾斜 / 俯仰光學頭、雙光源和先進的自動化功能可提供快速、靈活的生產(chǎn)車間內(nèi)測量。
·自校準激光和集成的防震臺可確保測量準確性和可靠性。
·提供的測量和分析軟件帶有簡潔且有引導性的程序和模式,更大程度的方便用戶使用。
光學輪廓分析設(shè)備硬件設(shè)計
ContourX-1000 集成有 Bruker 的傾斜 / 俯仰光學頭,*的雙光源、自動化的物鏡轉(zhuǎn)盤和樣品臺,以及可選配的晶圓卡盤。這些創(chuàng)新可為幾乎所有的在研發(fā)和生產(chǎn)中的應用提供快速且解決方案,包括有難度的表面和深溝槽結(jié)構(gòu)。
強大的自動化測量和分析
全局掃描干涉 (USI) 自適應測量模式可自動確定測量參數(shù),即使在幾十微米尺度內(nèi)也可確保納米級分辨率。
簡潔的且?guī)в幸龑缘?VisionXpress交互界面可去除操作人員經(jīng)驗水平的影響,快速得到佳測試結(jié)果。
即使在多用戶環(huán)境中,每個使用者都可通過高級查找表面功能,自動聚焦功能和自動照明調(diào)整功能獲取高 質(zhì) 量 的 結(jié) 果。 使 用 全 套 兼 容 的軟件包,從SureVison和多區(qū)域分析 到 Vision64 Map 和 膜 測 量,ContourX-1000 都 可 提 供 的測量來滿足您特定的應用需求。
測量準確性與魯棒性的基準
除 擁 有 Bruker 干 涉 技 術(shù) 測 量 和 成 像 能 力 之 外,ContourX-1000 還 配 備 了 專 屬 的 內(nèi)部參考激光和防震臺以獲取大的穩(wěn)定性和與其他工具的匹配能力。
即使在嘈雜的環(huán)境中,該系統(tǒng)也能確保測量性能。
布魯克三維光學輪廓儀ContourX-1000
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