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bruker納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測(cè)試，測(cè)試結(jié)果通過(guò)力與壓入深度的曲線計(jì)算得出，無(wú)需通過(guò)顯微鏡觀察壓痕面積.主要應(yīng)用納米壓痕儀主要用于測(cè)量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測(cè)試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲(chǔ)模量及損耗模量等特性。可適用于有機(jī)或無(wú)機(jī)、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測(cè)分......
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brukerrtespa-150探針，購(gòu)買找上海爾迪儀器科技有限公司有現(xiàn)貨！欲購(gòu)從速！brukerrtespa-150探針是用于布魯克原子力顯微鏡afm的探針。brukerrtespa-150afm原子力顯微鏡探針產(chǎn)品參數(shù)：幾何■矩形齒頂圓角半徑nm尺寸:8最大:12頻率赫茲尺寸:150最小:90最大:210長(zhǎng)度um尺......
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布魯克TESPA-V2原子力顯微鏡探針，適用于布魯克多種型號(hào)的原子力顯微鏡，上海爾迪儀器科技有限公司有售。而且布魯克TESPA-V2產(chǎn)品子力顯微鏡探針有現(xiàn)貨，可聯(lián)系購(gòu)買。BrukerTESPA-V2原子力顯微鏡探產(chǎn)品參數(shù)：幾何矩形齒頂圓角半徑（nm）尺寸:7最大:10頻率（赫茲）尺寸:320最小:270最大:370長(zhǎng)度......
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優(yōu)缺點(diǎn)優(yōu)點(diǎn)相對(duì)于掃描電子顯微鏡，原子力顯微鏡具有許多優(yōu)點(diǎn)。不同于電子顯微鏡只能提供二維圖像，AFM提供真正的三維表面圖。同時(shí)，AFM不需要對(duì)樣品的任何特殊處理，如鍍銅或碳，這種處理對(duì)樣品會(huì)造成不可逆轉(zhuǎn)的傷害。第三，電子顯微鏡需要運(yùn)行在高真空條件下，原子力顯微鏡在常壓下甚至在液體環(huán)境下都可以良好工作。這樣可以用來(lái)研究生物......
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brukerSCANASYST-AIRafm探針上海爾迪儀器科技有限公司有現(xiàn)貨！欲購(gòu)從速！SCANASYST-AIRafm是用于布魯克原子力顯微鏡的探針。brukerSCANASYST-AIRafm探針的產(chǎn)品規(guī)格：幾何:旋轉(zhuǎn)對(duì)稱針端高度h:2.5-8.0m前角FA:152.5背角BA:252.5側(cè)角SA:17.52.5......
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