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bruker納米壓痕儀應(yīng)用范圍
bruker納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試,測試結(jié)果通過力與壓入深度的曲線計算得出,無需通過顯微鏡觀察壓痕面積.主要應(yīng)用納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量,可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性??蛇m用于有機或無機、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測分......
特點·高分辨定量成像性能·150Hz快速掃描助力動態(tài)變化過程研究·與精密先進光學(xué)顯微鏡結(jié)合·新一代基于工作流程的軟件革新·靈活易用的模塊化設(shè)計與大量模塊的拓展性分辨率、穩(wěn)定性與準(zhǔn)確度·將高分辨率、快速掃描與100μm大范圍掃描集成于一套系統(tǒng)之中。全新的Vortis™2控制器帶來了數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度可以輕松進行海量大......
賽默飛X射線熒光光譜儀是一種分析技術(shù),通過測量樣品對X射線的吸收和發(fā)射來鑒定元素的種類和含量。這種技術(shù)在許多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用,主要包括以下幾個方面:1、環(huán)境監(jiān)測:賽默飛X射線熒光光譜儀可以用于分析土壤、水、沉積物和其他環(huán)境樣品中的重金屬和其他有毒元素。這有助于評估環(huán)境污染程度,制定相應(yīng)的治理措施,保護生態(tài)環(huán)境。2、材......
原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式:接觸模式(contactmode),非接觸模式(non-contactmode)和敲擊模式(tappingmode)。接觸模式從概念上來理解,接觸模式是AFM最直接的成像模式。AFM在整個掃描成像過程之中,探針針尖始終與樣品表面保持......
等離子設(shè)備在多個領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,如電子、材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等。為了確保等離子設(shè)備的正常運行和延長其使用壽命,以下是一些建議的維護和保養(yǎng)方法:1、定期檢查電源線和插頭:確保電源線沒有磨損、斷裂或老化現(xiàn)象。檢查插頭是否松動或損壞,如有需要,及時更換。2、清潔設(shè)備表面:使用干凈的軟布輕輕擦拭設(shè)備表面,以去除灰塵和污垢。避......
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