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bruker納米壓痕儀應用范圍
bruker納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試,測試結(jié)果通過力與壓入深度的曲線計算得出,無需通過顯微鏡觀察壓痕面積.主要應用納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量,可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應力-應變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性??蛇m用于有機或無機、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測分......
掃描探針顯微鏡的工作原理是基于微觀或介觀范圍的各種物理特性,通過原子線度的極細探針在被研究物質(zhì)的表面上方掃描時檢測兩者之間的相互作用,以得到被研究物質(zhì)的表面特性,不同類型的SPM之間的主要區(qū)別在于它們的針尖特性及其相應的針尖樣品相互作用方式的不同。工作原理來源于量子力學中的隧道貫穿原理。其核心是一個能在樣品表面上掃描、......
用于科研和工業(yè)研發(fā)的近紅外光致發(fā)光模塊對于半導體和光電行業(yè)來說,光致發(fā)光PL是在研發(fā)過程中極為重要的一個實驗工具。在紅外光譜范圍,傅立葉紅外光譜儀比傳統(tǒng)色散型譜儀的靈敏度要高得多。與VERTEX傅立葉紅外譜儀聯(lián)用的PLII模塊提供了業(yè)內(nèi)最靈活和強大的PL分析方案?!た蓪崿F(xiàn)對塊狀樣品、量子阱和量子點樣品的PL分析,在40......
FTIR傅里葉紅外在硅材料分析中的應用用于超高靈敏度硅材料質(zhì)量控制分析的分析儀CryoSAS是一款低溫硅材料分析儀,可用于太陽能和電子硅行業(yè)的超高靈敏度質(zhì)量控制。它可以同時定量分析碳、氧以及淺層雜質(zhì)(如硼、磷、砷等)。根據(jù)ASTM/SEMI標準,CryoSAS操作簡便,無需液氦等制冷劑。相比于傳統(tǒng)的濕化學分析法,Cry......
布魯克bruker臺階儀輪廓儀可容納高達350mmx350mm的樣品,為大型晶圓和面板制造帶來Dektak®傳奇的可重復性。DektakXTL具有空氣振動隔離設計和全封閉工作站設計,具有易用的聯(lián)鎖門,是當今苛刻的生產(chǎn)車間環(huán)境的的理想之選。其雙攝像頭架構(gòu)可增強空間感知能力,其高自動化水平可大限度地提高測試通量。增......
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