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BrukerDektakPro布魯克臺(tái)階儀DektakPro™以其多功能，使用的便捷性和在薄膜厚度、臺(tái)階高度、應(yīng)力、表面粗糙度和晶圓翹曲測(cè)量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng)，具有4?重復(fù)性的表現(xiàn)，并提供200毫米平臺(tái)選項(xiàng)，在科研以及工業(yè)領(lǐng)域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。DektakPro在表面測(cè)量方面設(shè)立了新的目標(biāo)，是微電子......
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原子力顯微鏡是指利用原子間范德瓦耳斯作用力隨著作用距離的變化，用壓電陶瓷器件控制嵌在彈性懸臂梁上的針尖以接觸或非接觸方式，對(duì)原子平整的樣品表面進(jìn)行掃描從而獲得表面形貌微結(jié)構(gòu)的分析方法。不同于電子顯微鏡只能提供二維圖像，原子力顯微鏡提供真正的三維表面圖。同時(shí)，AFM不需要對(duì)樣品的任何特殊處理，如鍍銅或碳，這種處理對(duì)樣品會(huì)......
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臺(tái)階儀作為一種接觸式的表面形貌測(cè)量?jī)x器,其在很多領(lǐng)域都有著較為廣泛的應(yīng)用。在使用設(shè)備的過程中也會(huì)有很多注意事項(xiàng)，今天上海爾迪儀器科技有限公司就帶大家看看需要注意的地方：1.取放臺(tái)階儀樣品時(shí)都要貼著樣品臺(tái)。2.保證被測(cè)樣品表面干凈沒有灰塵顆粒以防弄臟針尖。3.樣品臺(tái)階不超過要求，不可太粗糟，平面度要在儀器量程內(nèi)。4.在測(cè)......
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在原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM）的系統(tǒng)中，可分成三個(gè)部分：力檢測(cè)部分、位置檢測(cè)部分、反饋系統(tǒng)。力檢測(cè)部分在原子力顯微鏡（AFM）的系統(tǒng)中，所要檢測(cè)的力是原子與原子之間的范德華力。所以在本系統(tǒng)中是使用微小懸臂（cantilever）來檢測(cè)原子之間力的變化量。微懸臂通常由一個(gè)一般100~......
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等離子體指部分或*電離的氣體，且自由電子和離子所帶正、負(fù)電荷的總和*抵消，宏觀上呈現(xiàn)中性電。等離子體又叫做電漿，是由部分電子被剝奪后的原子及原子被電離后產(chǎn)生的正負(fù)電子組成的離子化氣體狀物質(zhì)，它廣泛存在于宇宙中，常被視為是除去固、液、氣外，物質(zhì)存在的第四態(tài)。原理介紹看似“神秘”的等離子體，其實(shí)是宇宙中一種常見的物質(zhì)，在太......
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